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超声波垂直探伤法讲解——飞泰检测仪器

发布时间:2019/12/20 9:11:34

超声波探伤仪是我们日常常用来检测工件缺陷的仪器,但不同的工件检测需要用到不同的检测方式,一般是垂直探伤法和斜射探伤法,下面飞泰就为大家讲解一下超声波探伤仪垂直探伤法。


超声波垂直探伤法

当把脉冲振荡器发生的电压加到晶片上时,晶片振动,产生超声波脉冲。如果被检物是钢工件的话,产生超声波以5900m/s的固定速度在钢工件内传播,超声碰到缺陷时,一部分从缺陷反射回到晶片,而另一部分为碰到缺陷的超声波继续前进,一直到被检物底面才反射回来。因此,缺陷处反射的超声波先回到晶片,底面反射的超声波后回到晶片。回到晶片上的超声波又反过来被转换成高频电压。电信号被接收和放大后进入示波器。示波器将缺陷回波和底面回波显示在荧光屏。因此,在示波管上可以得到图像,看到有没有缺陷,要是有缺陷,显示缺陷的位置及其大小。


对于脉冲反射式超声波探伤仪,荧光屏的时基线和激励脉冲是被同时触发的,即处于同步状态下工作。当探头被激励而向工件发射超声波时,激励脉冲也被接收电路触发时基电路开始扫描,在时基线的始端出现一个很强的脉冲波,这个波称为“始波”,用T表示;当探头接收到底面反射回来的声波时,时基线右边相应呈现一个表示底面发射的脉冲波,称为“底波”,用B表示。时基线由T扫描到B的时间正等于超声脉冲从探伤到底面又返回探头的传播时间。因此,可以说从T到B之间的距离代表了工件的厚度。如果工件中有缺陷,探头几首到缺陷反射回来的声波时,时基线上想要呈现出一个代表缺陷的脉冲波,称为“缺陷波”或“伤波”,用F表示。显然,缺陷波所经时间短语底波所经时间,故缺陷波F应处于与月之间。如果探伤仪的时基线良好,就可以利用T、F、B之间的距离关系,对缺陷定位。


另外,因缺陷回波高度是随缺陷尺寸的增大而增高的。所以可由缺陷回波高度来估计缺陷大小。当缺陷很大时,可以移动探头,按显示缺陷的范围来求出缺陷的延伸尺寸。