超声波探伤中试块的选择

NB/T47013—2015标准中规定的标准试块有CSK-IA、CSK-ⅡA、CSK-ⅢA、CSK-ⅣA。CSK-ⅠA试块用于超声波仪器、探头系统性能校准和检测校准，CSK-ⅡA、CSK-ⅢA、CSK-ⅣA试块用于超声波检测校准，CSK-IA、CSK-ⅡA、CSK-ⅢA、CSK-ⅣA试块适用于检测曲面率半径大于等于250mm的焊接接头超声检测，CSK-IA、CSK-ⅡA和CSK-ⅣA试块适用于工件壁厚为6～500mm的焊接接头超声检测。其中，CSK-ⅡA适用于工件壁厚范围为6～200mm的焊接接头，CSK-ⅣA系列试块适用于工件壁厚大于200～500mm的焊接接头。对于工件壁厚范围为8～120mm的焊接接头超声检测，也可以采用CSK-ⅢA试块，但应对灵敏度进行适当调整，与CSK-ⅡA试块保持一致。

在检测不同工件厚度对接接头时，可根据较大工件厚度确定试块厚度，可根据簿侧工件厚度确定扫查灵敏度和质量等级。CSK-ⅡA、CSK-ⅣA试块的人工反射体为长横孔，其反射波在理论上与焊缝光滑的直线熔渣相似。同时，利用横孔对不同的声束折射角也可以得到相等反射面，但需要深度不同的对比孔。长横孔远场变化规律因距离变化而类似于未焊透。在长横孔试块上绘制曲线，测定灵敏度，适用于未焊透类型缺陷的检测。CSK-ⅢA试块的人工反射体为短横孔。短横孔远场变化规律因距离变化类似于球孔。在短横孔试块上绘制曲线时，检测灵敏度可有效控制点状缺陷，但对中厚板而言灵敏度偏高。