超声波探伤仪检测方法按探头数目介绍

单探头检测法

超声波探伤仪使用一个探头兼作发射和接收超声波的检测方法称为单探头法。单探头法操作方便，可查出大多数缺陷，是目前最常用的一种检测方法。

单探头法检测，对于与波束轴线垂直的面状缺陷和立体型缺陷的查出效果最好。与波束轴线平行的面状缺陷难以查出。当缺陷与波束轴线倾斜时，则根据倾斜角度的大小，能够受到部分回波或者因反射波束全部反射在探头之外而无法查出。

双探头检测法

超声波探伤仪使用两个探头（一个发射，一个接收）进行检测的方法称为双探头法。主要用于发现单探头无法查出的缺陷。

双探头法又可根据两个探头排列方式和工作方式，进一步分为并列式、V形串列式、K形串列式、交叉式等。

交叉式：两个探头轴线交叉，交叉点为要检测的部位，此种检测方法可用来发现与检测面垂直的面状缺陷，在焊缝检测中，常用来发现横向缺陷。

串列式：两个探头一前一后，以相同方向放置在同一便面上，一个探头发射的声波被缺陷反射，反射的回波经底面反射进入另一个探头，此种检测方法用来发现与检测面垂直的片状缺陷。这种检测方法的特点是，不论缺陷是出在焊缝的上部、中部、或根部，其缺陷声程始终相等，从而缺陷信号在荧光屏上的水平位置固定不变：上、下表面存在的盲区；两个探头在一个表面上沿相反的方向移动，用手工操作较困难，需要设计专用的扫查装置。

并列式：两个探头并列放置，检测时两者作同步同向移动。但直探头作并列放置时，通常是一个探头固定，另一个探头移动，以便发现与检测面倾斜的缺陷。双晶探头的原理，就是将两个并列的探头组合在一起，具有较高的分辨力和信噪比，适用于薄工件、近表面缺陷的检测。

K形串列式：两探头以相同的方向分别放置于工件的上下表面上。一个探头发射的声波被缺陷反射，反射的回波进入另一个探头，此种检测方法主要用来发现与检测面垂直的面状缺陷。

V形串列式：两探头相对放置在同一面上，一个探头发射的声波被缺陷反射，反射的回波刚好落在另一个探头的入射点上，此种检测方式主要用来发现与检测面平行的面状缺陷。

多探头检测法

超声波探伤仪使用两个以上的探头组合在一起进行检测的方法，称为多探头法。多探头法的应用，主要是通过增加声束来提高检测速度或发现各种取向的缺陷，通常与多通道自动探伤设备配合。